MIT entwickelt neues System, um Integer-Überläufe aufzuspüren
Das auf einer Fachkonferenz vorgestellte DIODE soll in der Lage sein, Eingabewerte zu generieren, die Input-Kontrollen passieren und trotzdem intern Überläufe auslösen. Das System kann so helfen, potenzielle Schwachstellen zu …
Das auf einer Fachkonferenz vorgestellte DIODE soll in der Lage sein, Eingabewerte zu generieren, die Input-Kontrollen passieren und trotzdem intern Überläufe auslösen. Das System kann so helfen, potenzielle Schwachstellen zu …